透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, TEM)是一种高分辨率的显微镜，它利用高能电子通过样品的原子或分子结构，来研究材料的不同性质。透射电子显微镜可以使用在化学、生物、物理、材料科学、电子工程等领域。
透射电子显微镜采用电磁透镜技术，将电子束聚焦到极小的尺寸，穿过样品后形成一个暗影的投影图像。通过样品吸收电子的程度不同，可以对材料的微观结构、组成及性质进行研究。
透射电子显微镜与传统的光学显微镜相比，分辨率更高，可以观察到更小的样品细节。例如，透射电子显微镜可以通过样品的晶体衍射来确定其晶体结构，还可以用于确定材料中不同元素的分布。
目前，中国的透射电子显微镜技术已经发展到世界领先水平，成为国际上CTF方法（一种确定准确PFH的方法）的引领做法。
